十二年來,蔡司METROTOM系列一直為質量控制提供可靠的CT技術。第三代計算機斷層掃描(CT)系統蔡司METROTOM 1500極好地證明了先進可靠的X射線技術不再是未來的愿景。今天,您可以使用面向未來的質量控制。
在第三代系統中,新的3k檢測器可生成更高分辨率的3D體數據集,即更多體素可以檢測到更小的缺陷。
蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小,新的3K檢測器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細節。
通過檢測器的不同操作模式,掃描時間可減少多達75%,同時獲得與2k檢測器相當的體素尺寸。